中文：掃描探針顯微鏡；英文：scanning probe microscope / SIM

解釋
中文：掃描探針顯微鏡；英文：scanning probe microscope / SIM的原理；中文：掃描探針顯微鏡；英文：scanning probe microscope / SIM的定義；中文：掃描探針顯微鏡；英文：scanning probe microscope / SIM是什麽。
 基於掃描隧道顯微鏡的基本原理設計出的超近掃描高分辨率顯微鏡。分辨率可達納米級，並可將觀察的原子或分子形成三維圖像，是原子力顯微鏡（AFM）、激光力顯微鏡 （LFM）、磁力顯微鏡（MFM）等的統稱。