（五）-相位延迟量测量的实验数据实验中，在前述测试系统上用上述几种方法测量了两片样品的位相延迟。两测试样品标称值分别为：630.2nm附近的λ／2波片和532.4nm附近的λ／4波片。光谱扫描曲线见图1，测量数据见表1、2。图1 光谱法测630.2nm附近λ／2波片的扫描曲线前面误差分析表明，光谱法测量λ／2波片的误差zui小，因而可以作为参考标准，其它方法测量结果可以与之相比较。由测量结果可见，光谱法与Soleil补偿器法测得结果的偏差约为0.19%，两种方法在误差范围内符合很好，得到了相互印证。而两种光强法的测量结果比照光谱法及Soleil补偿器法测量结果差异较大。而且按照之前推导的公式无 ...
测量波片相位延迟量的原理波片是基于晶体双折射性质的偏振器件，在光线技术、光学测量以及各种偏振光技术等领域具有广泛的国产成人在线观看免费网站，其中1/4波片及1/2波片在偏振器件中国产成人在线观看免费网站尤其广泛。测量波片相位延迟量的方法主要有：光强探测法、旋光调制法、半阴法、光学补偿法等。这些方法主要基于对光强的测量，容易受光源的不稳定及杂散光的干扰，精度受到一定的限制，测量误差一般在0.5°左右。本文从理论上分析了利用椭偏仪测量波片相位延迟量的可能性，讨论了其测量精度及误差来源，并利用消光式椭偏仪测量了1／4波片以及1／2波片相位延迟量。实验表明：测量过程不受光强波动的影响，方法简单，操作方便，精确度高，测量波片相位延迟量精度达0 ...
测量波片相位延迟量实验1消光式椭偏仪使用上海昊量光电设备有限国产黄色在线观看的智能消光式椭偏仪，该椭偏仪主要由光源、光机系统、旋转样品台、电路控制系统及数据采集与处理软件组成。光源则采用的波长为632.8nm的氦氖激光器，适用于反射及透射样品测量。使用仪器测量(，Δ)时精度分别是0．O1°和0．02°。2实验过程调节椭偏仪处于直通测量状态，使标准1／4波片的快轴位于+45°，起偏器P位于+45°，检偏器A位于135°，这时系统达到了消光的状态。把待测波片安装在有刻度盘的旋转支架上，然后置于样品台，调节波片使其表面与入射光线垂直，转动待测波片，使得系统重新达到消光状态，这时待测波片的快慢轴应位于±45°。接 ...
量波片宽波段延迟量变化[J].激光技术,2012,36(2):258-261.4赵振堂,林天夏,黄佐华,何振江.利用消光式椭偏仪精确测量波片相位延迟量[J].激光杂志,2012,33(3):8-9.5程一斌,侯俊峰,王东光.组合波片的椭圆率角测量方法[J].北京理工大学学报,2019,39(7):750-755.6于德洪,李国华,苏美开,宋连科.任意波长云母波片位相延迟的测量[J].光电子．激光,1990,1(5):267-269.7徐文东,李锡善.波片相位延迟量精密测量新方法[J].光学学报,1994,14(10):1096-1101.8薛庆文,李国华.半阴法测量λ/4波片的相位延迟[J]. ...
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