中文：受激發射損耗顯微成像；英文：stimulated emission depletion microscopic ima-ging / STED microscopic imaging

解釋
中文：受激發射損耗顯微成像；英文：stimulated emission depletion microscopic ima-ging / STED microscopic imaging的原理；中文：受激發射損耗顯微成像；英文：stimulated emission depletion microscopic ima-ging / STED microscopic imaging的定義；中文：受激發射損耗顯微成像；英文：stimulated emission depletion microscopic ima-ging / STED microscopic imaging是什麽。
 一種基於掃描成像的遠場超分辨顯微成像技術。通過疊加兩束強度分布不同的光場，即激發光和損耗光，在焦點處形成特殊光強分布，結合特殊樣品的激發特性可以選擇性消除激發光焦點外圍區域激發態分子的熒光發射能力，減小艾裏斑的有效尺寸，實現超分辨成像。