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高靈敏紅外觀察儀(yi) -長續航（350-1550 nm）
時序抖動，其光譜靈敏度範圍從(cong) 可見光到中紅外範圍。SSPD的暗計數率極低，通常低於(yu) 每秒1個(ge) 計數，並且沒有後脈衝(chong) 。檢測器的有效麵積約為(wei) 10 um2探測效率與(yu) 暗計數係統組成 ...
Y值符合人眼光譜靈敏度曲線，故可用Y值表示樣品的亮度。如前所述，設備測得亮度值的精確度可能受盧瑟條件限製。此外，分光器件、探測器和信號放大電路的線性度也會(hui) 影響設備的亮度精度。這類係統中常用反射式光柵作為(wei) 分光器件，受入射角和波長影響，經光柵衍射後的光在各個(ge) 方向上的能量分布不均勻，zui終呈現為(wei) 入射光強和實際探測光強之間的非線性。同時，探測器對不同強度入射光的響應的線性度，信號放大電路的線性度也會(hui) 影響設備的亮度精度。這些在儀(yi) 器測試階段可以明確的係統誤差，生產(chan) 商可以通過硬件上或軟件上的補償(chang) 來消除。圖 2 某款探測器的波長靈敏度曲線三、數據重複性各器件性能可靠性：儀(yi) 器中，各器件對環境的敏感程度影響著測 ...
RGB相機的光譜靈敏度圖2，在定製的SPECTRA TUNE LAB LED光源中，10個(ge) LED的歸一化光譜功率分布表1，每個(ge) LED的峰值波長圖3，工作室成像裝置方法成像一個(ge) 場景包含幾個(ge) 彩色目標，然後是一個(ge) 平場，使用每個(ge) LED輪流成像進行照明。這就產(chan) 生了10張目標和平場的3通道RGB圖像。同樣的場景和平場然後由LED的策略組合照明下成像，進一步解釋如下。同時也捕捉到了相同曝光時間的暗色圖像。燈光被調到近似D50照明，並捕獲一個(ge) 單一的RGB圖像，使傳(chuan) 統RGB成像和各種多光譜組合之間的比較進行評估。波段約減RGB相機在三個(ge) 波段捕捉相對廣泛的光譜靈敏度。光譜可調LED光源可以提供多達10個(ge) 不同的通道 ...
傳(chuan) 感器像素的光譜靈敏度，或選擇設計其它屬性。然而，開發專(zhuan) 用成像係統的挑戰在於(yu) 如何z好地設計此類儀(yi) 器並利用這些工程能力。在這種情況下，將相機解釋為(wei) 編碼器-解碼器係統是有幫助的。一個(ge) 或多個(ge) 鏡頭通過其深度變化點擴展函數將場景投影到2D傳(chuan) 感器上，從(cong) 而對傳(chuan) 感器上的場景進行光學編碼，然後光譜過濾器確定如何集成色譜。通常，電子解碼器從(cong) 原始傳(chuan) 感器測量中估計某些屬性。使用可微分圖像形成模型，我們(men) 可以模擬 3D 多光譜場景在傳(chuan) 感器上的光學投影，然後使用算法處理該數據。因此，我們(men) 可以將相機設計的問題整體(ti) 視為(wei) 光學和成像處理的端到端優(you) 化（見圖 1）。這種“深度”計算相機可以在離線階段進行訓練，以優(you) 化高層(high le ...
表麵增強拉曼光譜SERS的影響因素SERS是檢測粗糙金屬表麵吸附質分子靈敏的工具之一，它會(hui) 對拉曼散射信號產(chan) 生較大的增強(圖1)。因此可以假設兩(liang) 個(ge) 因素負責信號的增強。電磁效應被認為(wei) 是更主要的，有時也被稱為(wei) “第①層效應”，因為(wei) 它要求分析物分子與(yu) 金屬表麵直接接觸。這兩(liang) 種因素都可以通過位於(yu) 銀、金等金屬中的表麵等離子體(ti) 的概念得到很好的理解。當等離子體(ti) 激元垂直於(yu) 金屬表麵振蕩時引起散射，反映了表麵的粗糙度，這種粗糙度可以是物理粗糙度，也可以是一些納米粒子產(chan) 生的粗糙度。由於(yu) 法向拉曼散射得到的信號通常非常微弱，因此為(wei) 了獲得更多可檢測或增強的信號，人們(men) 傾(qing) 向於(yu) 采用SERS技術。這項技術可以提供分子與(yu) 表麵相互作用的信 ...
。像增強器的光譜靈敏度由所選擇的光電陰極的類型決(jue) 定。圖4為(wei) 不同類型光電陰極的光譜靈敏度曲線。圖4 光電陰極的靈敏度。GaAs和GaAsP陰極通常在Gen3像增強器中提供，而S20, S25和寬波段在Gen2像增強器中常見。什麽(me) 時候不使用booster？如前所述，在增強器中添加booster將允許更高的幀率。然而，由於(yu) booster是成像係統中的一個(ge) 額外組件，它也會(hui) 降低整個(ge) 係統的分辨率。作為(wei) 比較：一個(ge) 增強器的典型分辨率為(wei) 每毫米45對線，而一個(ge) 增強器與(yu) booster組合將使分辨率降至每毫米25對線。此時相機像素大小就變的尤為(wei) 重要：當相機像素較大時（例如高速相機典型的20 um），從(cong) 45到25 lp ...
橢偏成像技術（四）光譜橢偏成像的發展（第二部分）相比傳(chuan) 統光譜橢偏儀(yi) ，Muller矩陣橢偏儀(yi) 可以獲得更豐(feng) 富的信息，提供更高的靈敏度並且可以改變方位角以實現錐型衍射，可以實現納米結構幾何參數的大麵積快速準確測量。該係統采用雙旋轉補償(chang) 器，具有寬波段測量能力，係統校準和數據處理都更加簡便。該方法不僅(jin) 具有傳(chuan) 統Muller矩陣橢偏儀(yi) 的優(you) 勢，還擁有了顯微成像技術高分辨率的優(you) 點，光譜範圍達到190~1000 nm。在2016 年，華中科技大學劉世元課題組完成了國內(nei) 首台高精度寬光譜Muller矩陣橢偏儀(yi) 設備，其橢偏成像結構如下圖所示。雙旋轉補償(chang) 器型 Mueller矩陣成像橢偏儀(yi) 示意圖光源發出的光經過消色差透鏡和 ...
探測器陣列的光譜靈敏度在350和5000nm之間，幀采集速率為(wei) 106-107幀/秒，用於(yu) 電光解碼，文獻33,34中有記載。使用這種類型的儀(yi) 器，信噪比可以提高到≈104。傳(chuan) 感器帶寬在時域記錄的信號的傅立葉譜如圖4所示。觀測到的光譜輪廓是由光學整流產(chan) 生的太赫茲(zi) 輻射脈衝(chong) 的特征。觀測到的低頻率和高頻率分別約為(wei) 100GHz和800GHz。在圖4中，將薄膜LNOI電光探測器的頻率響應與(yu) 太赫茲(zi) 波源的頻譜和根據式(2)計算的MZI調製器帶寬進行比較。薄膜LNOI電光太赫茲(zi) 波探測器的測量頻率響應與(yu) 調製器響應的預測低頻和高頻極限非常吻合。在高頻率(> 500 GHz)下，與(yu) 計算響應相比，觀察到測量到的探測器 ...
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