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),導致拉曼散射截麵為(wei) 10−26-10−31cm2。如果被探測材料的可用散射體(ti) 積非常小,就像二維半導體(ti) 的情況(散射體(ti) 積等於(yu) 激光光斑麵積乘以µ2範圍內(nei) 的麵積乘以二維材料的亞(ya) 納米厚度),這是特別關(guan) 鍵的。因此,測量激光功率密度保持在損傷(shang) 閾值以下通常需要很長的采集時間,以獲得足夠好的信噪比。關(guan) 於(yu) 第②個(ge) 限製,傳(chuan) 統光學測量中的SR是由光學衍射極限(使用高數值孔徑物鏡的激發波長的大約一半)決(jue) 定的。因此,在現代微拉曼裝置中,當使用可見範圍內(nei) 的較短激發波長時,可以實現的較小探測尺寸約為(wei) 200 nm。然而一些因素,如非理想光學通常導致SR接近半微米或更高。一般來說,有幾種方法可以用來增強拉曼信號。直接的方法是將激 ...
nm,因此散射截麵弱了100倍。(iii)它的斯托克斯線出現在光譜儀(yi) 的敏感區域之外。(iv)它的反斯托克斯線出現在波長範圍650 - 795 nm,超出感興(xing) 趣的區域。探測光學探頭光學的主要配置是傳(chuan) 輸、90°、後向散射和空間偏移。第三種是較簡單的,因為(wei) 它很容易設置較小的組件和對齊。主要考慮:(i)較大限度地提高弱拉曼輻射的收集效率;(ii)阻止強瑞利輻射進入探測單元。這些目標是通過聚焦透鏡、分束器和長通濾波器實現的。來自激光二極管的準直光通過分束器和聚焦透鏡(L1)定向到樣品。分束器的作用是將激發光路與(yu) 收集光路分開。我們(men) 沒有使用專(zhuan) 門設計的分束器,而是使用了一塊正方形的顯微鏡切片(25 mm × ...
曼為(wei) 分子拉曼散射截麵。在SRS顯微鏡中,我們(men) 測量ΔIp (SRL)或ΔIS (SRG)作為(wei) 樣品位置的函數。因為(wei) ΔI∝N,即信號與(yu) 目標物種的濃度c成正比,現在有可能生成樣品的定量化學圖。不同的化學物質可以根據不同的振動頻率被靶向,如自發拉曼文獻中記錄的ΔI∝σ拉曼。由於(yu) 信號對激發強度的非線性依賴性,SRS允許與(yu) 雙光子顯微鏡類似的本征光學切片,消除了共聚焦針孔的需要。這對於(yu) 厚組織樣本的成像尤其有用。表1.自發拉曼散射與(yu) 相幹拉曼散射的比較自發拉曼散射SRS單光子過程多光子過程極慢成像(>20分鍾/幀)快速成像,可達(30 fps)無固有z分辨率光學切片可見光/紫外光束激發增強散射激發與(yu) 近紅外光 ...
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