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中，有效熒光發光麵積的減小是通過受激發射效應來實現的。一個(ge) 典型的STED顯微係統中需要兩(liang) 束照明光，其中一束為(wei) 激發光，另外一束為(wei) 損耗光。當激發光的照射使得其衍射斑範圍內(nei) 的熒光分子被激發，其中的 電子躍遷到激發態後，損耗光使得部分處於(yu) 激發光斑外圍的電子以受激發射的方式回到基態，其餘(yu) 位於(yu) 激發光斑中心的被激發電子則不受損耗光的影響，繼續以自發熒光的方式回到基態。由於(yu) 在受激發射過程中所發出的熒光和自發熒光的波長及傳(chuan) 播方向均不同，因此真正被探測器所接受到的光子均是由位於(yu) 激發光斑中心部分的熒光樣品通過自發熒光方式產(chan) 生的。由此，有效熒光的發光麵積得以減小，從(cong) 而提高了係統的分辨率。STED顯微術能實現超分辨的另 ...
了樣品的有效發光麵積，從(cong) 而突破了衍射極限的限製。熒光分子需要在激發態進行自發輻射發出熒光，因此激發態是亮態，STED中采用熒光分子的基態作為(wei) 暗態。強製使得熒光分子處於(yu) 暗態的機製采用受激輻射。當激發光光斑內(nei) 的熒光分子吸收了激發光處於(yu) 激發態後，用另一束STED光束照射樣品，使損耗光斑範圍內(nei) 的分子以受激輻射的方式回到基態，從(cong) 而失去發射熒光的能力。即熒光萃滅。這個(ge) 過程就叫做受激發射損耗。隻有損耗光強為(wei) 零或較低的區域內(nei) 的熒光分子能夠以自發輻射的形式回到激態發出熒光，這樣就實現了有效發光麵積的減小。為(wei) 了實現上述目的，損耗光聚焦後的光斑需要滿足邊緣光強較大，而中心趨於(yu) 零的條件，一般采用的是環形的空心光斑，如 ...
度; L-發光麵上的亮度; τ-光學係統的透射比（透過率）; f-透鏡焦距; l-透鏡與(yu) 發光麵的距離（稱為(wei) 測量距離）; fm係統相對孔徑數，fm=f/D，其中D為(wei) 孔徑直徑。 當係統的設計能使f/l可以忽略不計時（在某誤差範圍內(nei) ）(1-f/l)2近似等於(yu) 公式（1）可以化為(wei) ：公式（2）公式（2）為(wei) 設計成像式亮度計的基本公式。色度測試原理：光源的色度用色品坐標x，y表示，與(yu) 光源的相對光譜功率分布有關(guan) ；如果一個(ge) 光源的相對功率分布函數用P（λ）來表示，（λ）、（λ）、（λ）代表CIE1931標準光譜三刺激值，如下圖所示，則此光源的三刺激值可用如下公式來表示：濾光片式彩色亮度計的色度測量功能的 ...
激光二極管的發光麵積大約比LED小4個(ge) 數量級（0.0001mm2對比1mm2），使其能夠在更小的發散角內(nei) 提供類似的功率輸出。激光腔的橫向寬度（發射區寬度，見圖4）決(jue) 定了激光是單模（寬度<10μm）還是多模（寬度>50μm）。就国产成人在线观看免费网站而言，單模和多模半導體(ti) 激光器在輸出功率和角度發散之間代表著一種權衡。圖4. 法布裏-珀羅（FP）半導體(ti) 激光器示意圖。整機尺寸一般為(wei) 1000µm×500µm×200µm（長×寬×高）。對於(yu) 單模激光器，發射區寬度小於(yu) 10 μ m，對於(yu) 高度為(wei) 1 μ m的多模激光器，發射區寬度小於(yu) 50 μm。除了高輻射強度和小光學擴展量（見表1）之外，激光源的光輸出是相幹的，而L ...
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