自1998年以來，NT-MDT已成功地將AFM與(yu) 光學顯微鏡和光譜技術相集成。支持包括hybrid modeTM在內(nei) 的30多種基本和AFM模式，可提供有關(guan) 樣品表麵物理性質的廣泛信息。 AFM與(yu) 共焦拉曼/熒光顯微鏡的集成提供了有關(guan) 樣品的更多信息。
完全相同的樣品區域同時測量的AFM和拉曼圖可提供有關(guan) 樣品物理性質（AFM）和化學成分（Raman）的補充信息。
NTEGRA Spectra II借助尖端增強拉曼散射（TERS），可以進行納米級分辨率的光譜學/顯微術。特製的AFM探針（納米天線）可用於(yu) TERS，以增強和定位尖端附近納米級區域的光。
這種納米天線充當光的“納米源”，從(cong) 而提供了光學成像的可能性，其分辨率小於(yu) 衍射極限（max〜10 nm）。掃描近場光學顯微鏡（SNOM）是獲得旋光性樣品的光學和光譜圖像的另一種方法，其分辨率受探針孔徑大小（〜100 nm）限製。
NT-MDT 原子力顯微鏡係統光路圖
所有可能的激發/檢測和TERS的解決(jue) 方案
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CdS納米線通過導電聚合物納米線與(yu) 金屬電極連接。 AFM探針借助觀察顯微鏡定位在結構上。 由於(yu) AFM探針的形狀，激光可以直接定位在尖端頂點上。
高分辨率AFM圖像可提供有關(guan) 樣品形貌的信息。 從(cong) 同一區域獲取的拉曼圖和發光圖顯示出納米線化學成分的差異。
光學圖片
原子力顯微鏡掃描圖 拉曼掃描圖 熒光掃描圖 拉曼譜
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